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多核处理器SoC单粒子效应及在轨可靠性评估数据集
数据集论文 | 更新时间：2026-07-14

    • 多核处理器SoC单粒子效应及在轨可靠性评估数据集

    • A dataset of single event effect and on-orbit reliability evaluation of multi-core processor SoC

    • 核技术   2026年49卷第6期 文章编号：060704

    • DOI：10.3724/j.0253-3219.2026.hjs.49.260143    

      中图分类号： TL99

    • 收稿：2026-04-10，

      修回：2026-05-24，

      纸质出版：2026-06-15

    移动端阅览

  • 秦丰迪,张付强,陈启明等.多核处理器,SoC单粒子效应及在轨可靠性评估数据集[J].核技术,2026,49(06):060704. DOI： 10.3724/j.0253-3219.2026.hjs.49.260143. CSTR： 32193.14.hjs.CN31-1342/TL.2026.49.260143.

    QIN Fengdi,ZHANG Fuqiang,CHEN Qiming,et al.A dataset of single event effect and on-orbit reliability evaluation of multi-core processor SoC[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2026,49(06):060704. DOI： 10.3724/j.0253-3219.2026.hjs.49.260143. CSTR： 32193.14.hjs.CN31-1342/TL.2026.49.260143.

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