基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测

邢彦军; 高若阳; 张玲; 陶芬; 刘一; 邓彪

doi:10.11889/j.0253-3219.2024.hjs.47.030102

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基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测

同步辐射技术及应用 | 更新时间：2024-10-25

- 基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测
- Background sequence prediction for TXM-XANES based on polynomial regression and linear interpolation
- “在能源材料研究领域，科学家利用机器学习算法，通过两张谱学背景图像完成背景图像序列预测建模，显著提升全场纳米谱学成像实验效率。”
- 核技术 2024年47卷第3期文章编号：030102
- 作者机构：
  
  1.上海理工大学上海 200093
  2.中国科学院上海应用物理研究所上海 201800
  3.中国科学院上海高等研究院上海同步辐射光源上海 201204
  4.中国科学院大学北京 100049
- 作者简介：
  
  邢彦军，男，1999年出生，2021年毕业于长治学院，现为硕士研究生，研究领域为X射线成像
  刘一，E-mail：yi.liu@usst.edu.cn
  邓彪，E-mail：dengb@sari.ac.cn
- 基金信息：
  
  国家重点研发计划(2021YFA1600703;2021YFF0701202;2021YFA1601001);国家自然科学基金(U1932205;12275343)
- DOI：10.11889/j.0253-3219.2024.hjs.47.030102
  中图分类号： TL54⁺4;TL99
- 收稿日期：2023-10-29，
  
  修回日期：2023-12-28，
  
  纸质出版日期：2024-03-15
- 稿件说明：
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邢彦军,高若阳,张玲等.基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测[J].核技术,2024,47(03):030102.

XING Yanjun,GAO Ruoyang,ZHANG Ling,et al.Background sequence prediction for TXM-XANES based on polynomial regression and linear interpolation[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2024,47(03):030102.
邢彦军,高若阳,张玲等.基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测[J].核技术,2024,47(03):030102. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2024.hjs.47.030102.

XING Yanjun,GAO Ruoyang,ZHANG Ling,et al.Background sequence prediction for TXM-XANES based on polynomial regression and linear interpolation[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2024,47(03):030102. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2024.hjs.47.030102.

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基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测

Background sequence prediction for TXM-XANES based on polynomial regression and linear interpolation

DOI：10.11889/j.0253-3219.2024.hjs.47.030102