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基于双锁相环的数据采集时钟电路设计及验证
核电子学与仪器 | 更新时间：2024-10-25
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    • 基于双锁相环的数据采集时钟电路设计及验证

    • Design and verification of data acquisition clock circuit based on dual-loop phase-locked loop

    • “在数字测量系统领域，德州仪器专家采用双锁相环技术，成功滤除时钟抖动，显著提升采样数据信噪比。”
    • 核技术   2022年45卷第10期 文章编号：100401

    • DOI：10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.100401    

      中图分类号： TL506

    • 收稿日期：2022-06-06，

      修回日期：2022-08-19，

      纸质出版日期：2022-10-15

    移动端阅览

  • 刘智,高国栋,岳军会等.基于双锁相环的数据采集时钟电路设计及验证[J].核技术,2022,45(10):100401. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.100401.

    LIU Zhi,GAO Guodong,YUE Junhui,et al.Design and verification of data acquisition clock circuit based on dual-loop phase-locked loop[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2022,45(10):100401. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.100401.

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