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基于X射线荧光的扩散渗铝层厚度测量研究
加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2024-10-25
    • 基于X射线荧光的扩散渗铝层厚度测量研究

    • Study of the measurement of the thickness of diffusion aluminizing layer based on X-ray fluorescence

    • “航空发动机涡轮叶片防护涂层厚度测量难题获突破,专家采用X射线荧光吸收法,建立多元回归模型,测量误差仅3.2%。”
    • 核技术   2020年43卷第2期
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2020.hjs.43.020201    

      中图分类号: TL99
    • 收稿日期:2019-11-15,

      修回日期:2019-12-06,

      纸质出版日期:2020-02-15

    移动端阅览

  • 刘吉超,汪诚,戴鹏里.基于X射线荧光的扩散渗铝层厚度测量研究[J].核技术,2020,43(02):60-67. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2020.hjs.43.020201.

    LIU Jichao,WANG Cheng,DAI Pengli.Study of the measurement of the thickness of diffusion aluminizing layer based on X-ray fluorescence[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2020,43(02):60-67. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2020.hjs.43.020201.

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相关机构

四川大学 原子核科学技术研究所 辐射物理与技术教育部重点实验室
成都理工大学
中国科学院高能物理所同步辐射室,中国科学院高能物理所同步辐射室,中国科学院高能物理所同步辐射室,中国科学院高能物理所同步辐射室
中国科学院研究生院北京100039,北京100039,北京100039
中国科学技术大学生命科学学院
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