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多层像素芯片缪子成像装置中芯片位置校正方法研究
核电子学与仪器 | 更新时间：2024-10-25
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    • 多层像素芯片缪子成像装置中芯片位置校正方法研究

    • Chip position correction method for a multi-layer muon radiography detector

    • “在高能物理探测领域，研究人员建立了基于μ子径迹直线拟合模型的迭代芯片位置校正算法，为解决硅像素芯片拼接误差问题提供解决方案。”
    • 核技术   2019年42卷第7期

    • DOI：10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.070403    

      中图分类号： O572.19

    • 收稿日期：2019-03-08，

      修回日期：2019-04-03，

      纸质出版日期：2019-07-10

    移动端阅览

  • 王宏凯,徐翀,赵传奇等.多层像素芯片缪子成像装置中芯片位置校正方法研究[J].核技术,2019,42(07):1-6. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.070403.

    WANG Hongkai,XU Chong,ZHAO Chuanqi,et al.Chip position correction method for a multi-layer muon radiography detector[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2019,42(07):1-6. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.070403.

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中国科学院高能物理研究所
散裂中子源科学中心
中国科学技术大学近代物理系
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