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辐照后4H-SiC带电粒子探测器的特性研究
核物理、交叉学科研究 | 更新时间：2024-10-25
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    • 辐照后4H-SiC带电粒子探测器的特性研究

    • Study of the characteristics of an irradiated 4H-SiC charge particle detector

    • “在半导体材料领域，专家利用60Co源γ射线辐照4H-SiC肖特基二极管探测器，观察辐照对其电学特性及α粒子响应能量分辨率的影响。”
    • 核技术   2019年42卷第5期

    • DOI：10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.050501    

      中图分类号： TL814

    • 收稿日期：2018-12-27，

      修回日期：2019-02-26，

      纸质出版日期：2019-05-10

    移动端阅览

  • 韩冲,崔兴柱,梁晓华等.辐照后4H-SiC带电粒子探测器的特性研究[J].核技术,2019,42(05):1-6. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.050501.

    HAN Chong,CUI Xingzhu,LIANG Xiaohua,et al.Study of the characteristics of an irradiated 4H-SiC charge particle detector[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2019,42(05):1-6. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.050501.

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