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光学元件拼接测量中的定位误差校正
同步辐射技术及应用 | 更新时间：2024-10-25
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    • 光学元件拼接测量中的定位误差校正

    • Position error compensation for large-aperture mirror stitching measurement

    • “在光学元件测量领域，专家建立了拼接测量方法，通过位移校正提高拼接精度，为大口径反射光学元件面形测量提供解决方案。”
    • 核技术   2019年42卷第1期

    • DOI：10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.010103    

      中图分类号： TL99

    • 收稿日期：2018-03-04，

      修回日期：2018-07-28，

      纸质出版日期：2019-01-10

    移动端阅览

  • 刘丁枭,李明,盛伟繁.光学元件拼接测量中的定位误差校正[J].核技术,2019,42(01):13-19. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.010103.

    LIU Dingxiao,LI Ming,SHENG Weifan.Position error compensation for large-aperture mirror stitching measurement[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2019,42(01):13-19. DOI： 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.010103.

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