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小角X射线散射测量高分子薄膜亚纳米孔径
同步辐射技术及应用 | 更新时间:2021-05-19
    • 小角X射线散射测量高分子薄膜亚纳米孔径

    • SAXS measurements of polymeric sub-nanometer pores

    • 核技术   2018年41卷第12期 文章编号:120102
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.120102    

      中图分类号: TL99
    • 收稿日期:2018-07-20,

      修回日期:2018-09-11,

      纸质出版日期:2018-12-10

    移动端阅览

  • 丁思远, 王雪, 汪茂, 等. 小角X射线散射测量高分子薄膜亚纳米孔径[J]. 核技术, 2018,41(12):120102 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.120102.

    Siyuan DING, Xue WANG, Mao WANG, et al. SAXS measurements of polymeric sub-nanometer pores[J]. Nuclear techniques, 2018, 41(12): 120102 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.120102.

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