基于0.13 μm CMOS工艺的时间内插时间数字转换器设计与测试

葛达; 梁福田; 王鑫喆; 冯博; 朱宇龙; 朱晨曦; 陈炼; 李锋; 尚爱国; 金革

doi:10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.040401

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基于0.13 μm CMOS工艺的时间内插时间数字转换器设计与测试

核电子学与仪器 | 更新时间：2021-05-19

- 基于0.13 μm CMOS工艺的时间内插时间数字转换器设计与测试
- Design and test of time-interpolation TDC based on 0.13μm CMOS process
- 核技术 2018年41卷第4期文章编号：040401
- 作者机构：
  
  1.中国科学技术大学核探测与核电子学国家重点实验室合肥 230026
  2.中国人民解放军火箭军工程大学西安 710025
- 作者简介：
  
  [ "葛达, 男, 1994年出生, 2015年毕业于火箭军工程大学, 现为硕士研究生, 研究方向为核辐射探测与核电子学技术", "GE Da, male, born in 1994, graduated from Rocket Force University of Engineer in 2015, master student, focusing on nuclear radiation detection and nuclear electronics" ]
  梁福田, E-mail:ftliang@ustc.edu.cn LIANG Futian, E-mail:ftliang@ustc.edu.cn
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(61401422)
- DOI：10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.040401
  中图分类号： TL824
- 收稿日期：2017-06-16，
  
  修回日期：2017-10-20，
  
  纸质出版日期：2018-04-10
- 稿件说明：
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葛达, 梁福田, 王鑫喆, 等. 基于0.13 μm CMOS工艺的时间内插时间数字转换器设计与测试[J]. 核技术, 2018,41(4):040401

Da GE, Futian LIANG, Xinzhe WANG, et al. Design and test of time-interpolation TDC based on 0.13μm CMOS process[J]. Nuclear techniques, 2018, 41(4): 040401
葛达, 梁福田, 王鑫喆, 等. 基于0.13 μm CMOS工艺的时间内插时间数字转换器设计与测试[J]. 核技术, 2018,41(4):040401 DOI： 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.040401.

Da GE, Futian LIANG, Xinzhe WANG, et al. Design and test of time-interpolation TDC based on 0.13μm CMOS process[J]. Nuclear techniques, 2018, 41(4): 040401 DOI： 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.040401.

摘要

针对高能物理实验中飞行时间探测器的时间测量高精度需求，基于0.13μm互补金属氧化物半导体（Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS）工艺设计了一种可应用在时间内插法中作为细计数模块的单周期时间数字转换器（Time to Digital Convertor，TDC），并为测试设计了一个闭环测试系统。通过实测数据分析，在相同的条件下设计对比试验，寻找TDC刻度非均匀性的来源，并给出相应的校准方法。测试结果表明：校准后TDC的分辨率达到57ps，精度好于40 ps，达到了预期的设计目标。

Abstract

Background

Time-of-flight measurement is a basic method to identify charged particles in high-energy physics experiments.

Purpose

This paper aims to realize time measurement resolution of flight time detectors in high-energy physics experiments within 50ps.

Methods

Based on the 0.13μm complementary metal oxide semiconductor (CMOS) process

we designed a single-cycle time to digital convertor (TDC) as a fine counting module in time interpolation and built a closed-loop test system.

Results

Through analysis of measured data

we designed the comparison test under the same conditions

and found the source of TDC scale heterogeneity

and proposed the corresponding calibration method.

Conclusion

The resolution of TDC after calibration is up to 57ps and the accuracy is better than 40 ps.

关键词

Keywords

references

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