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氖杂质注入条件下CFETR芯部钨杂质浓度的模拟研究
核能科学与工程 | 更新时间:2021-05-19
    • 氖杂质注入条件下CFETR芯部钨杂质浓度的模拟研究

    • Simulation study of core W impurity concentration with Ne seeding for CFETR

    • 核技术   2018年41卷第1期 文章编号:010602
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.010602    

      中图分类号: TL627
    • 收稿日期:2017-04-19,

      修回日期:2017-06-01,

      纸质出版日期:2018-01-10

    移动端阅览

  • 吴樑, 徐国梁, 周一夫, 等. 氖杂质注入条件下CFETR芯部钨杂质浓度的模拟研究[J]. 核技术, 2018,41(1):010602 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.010602.

    Liang WU, Guoliang XU, Yifu ZHOU, et al. Simulation study of core W impurity concentration with Ne seeding for CFETR[J]. Nuclear techniques, 2018, 41(1): 010602 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.010602.

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