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电阻元件的光释光测量条件的优化
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-03
    • 电阻元件的光释光测量条件的优化

    • Optimization of OSL measurement conditions for resistance element

    • 核技术   2014年37卷第5期 文章编号:050203
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2014.hjs.37.050203    

      中图分类号:
    • 纸质出版日期:2014-05-08

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  • 郭竞渊, 唐 强, 贾育新, 等. 电阻元件的光释光测量条件的优化[J]. 核技术, 2014,37(5):050203 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2014.hjs.37.050203.

    GUO Jingyuan, TANG Qiang, JIA Yuxin, et al. Optimization of OSL measurement conditions for resistance element[J]. Nuclear techniques, 2014, 37(5): 050203 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2014.hjs.37.050203.

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