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基于多模式扫描探针显微镜技术分析碳化硅的辐照损伤
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-03
    • 基于多模式扫描探针显微镜技术分析碳化硅的辐照损伤

    • Irradiation damage in silicon carbide based on a multi-mode scanning probe microscope

    • 核技术   2014年37卷第1期 文章编号:010204
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2014.hjs.37.010204    

      中图分类号:
    • 纸质出版日期:2014-01-20

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  • 白志平, 范红玉, 袁 凯, 等. 基于多模式扫描探针显微镜技术分析碳化硅的辐照损伤[J]. 核技术, 2014,37(1):010204 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2014.hjs.37.010204.

    BAI Zhiping, FAN Hongyu, YUAN Kai, et al. Irradiation damage in silicon carbide based on a multi-mode scanning probe microscope[J]. Nuclear techniques, 2014, 37(1): 010204 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2014.hjs.37.010204.

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