您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
高电离电位元素Pd的热表面电离质谱分析
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-05
    • 高电离电位元素Pd的热表面电离质谱分析

    • Analysis technology of high ionization potential element palladium by thermal ionization mass spectrometry

    • 核技术   2013年36卷第10期 文章编号:100203
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.100203    

      中图分类号: O571.43
    • 纸质出版日期:2013-10-01

    移动端阅览

  • [1]汤磊,刘雪梅,龙开明,杨天丽.高电离电位元素Pd的热表面电离质谱分析[J].核技术,2013,36(10):28-32. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.100203.

    TANG Lei, LIU Xuemei, LONG Kaiming, et al. Analysis technology of high ionization potential element palladium by thermal ionization mass spectrometry[J]. Nuclear techniques, 2013, 36(10): 100203 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.100203.

  •  
  •  

0

浏览量

26

下载量

0

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

痕量锂同位素的热表面电离质谱高精度测量
铜镍矿样中铂和钯的离子交换预富集中子活化分析研究

相关作者

汤磊
刘雪梅
龙开明
刘钊
杨天丽
黄永健
曾英
周蓉生

相关机构

成都理工学院
0