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双模测量法消除编码孔成像的近场伪影
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-05
    • 双模测量法消除编码孔成像的近场伪影

    • Near-field artifact reduction in coded aperture imaging by double-mode measurement

    • 核技术   2013年36卷第8期 文章编号:080205
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.080205    

      中图分类号: O572.212
    • 纸质出版日期:2013-08-01

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  • [1]肖洒,兰明聪,党晓军,张连平,韦孟伏.双模测量法消除编码孔成像的近场伪影[J].核技术,2013,36(08):45-49. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.080205.

    XIAO Sa, LAN Mingcong, DANG Xiaojun, et al. Near-field artifact reduction in coded aperture imaging by double-mode measurement[J]. Nuclear techniques, 2013, 36(8): 080205 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.080205.

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