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OSL测年中标准生长曲线法(SGC)求单个测片De误差的数学分析
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-06-03
    • OSL测年中标准生长曲线法(SGC)求单个测片De误差的数学分析

    • The mathematical analysis for De error calculation in the standardized growth curve (SGC) method in OSL dating

    • 核技术   2013年36卷第3期 文章编号:030205
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.030205    

      中图分类号: TL816.7
    • 纸质出版日期:2013

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  • [1]刘瑞元,赖忠平,刘向军.OSL测年中标准生长曲线法(SGC)求单个测片D_e误差的数学分析[J].核技术,2013,36(03):31-36. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.030205.

    LIU Ruiyuan1, 2 LAI Zhongping3 LIU Xiangjun1 1. The mathematical analysis for De error calculation in the standardized growth curve (SGC) method in OSL dating[J]. Nuclear techniques, 2013, 36(3): 030205 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.030205.

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