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2MeV 4He+背散射测定固体薄膜厚度的研究
更新时间：2021-04-20
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    • 2MeV 4He+背散射测定固体薄膜厚度的研究

    • Thickness measurement of thin solid films by 2MeV 4He+ Rutherford backscattering

    • 核技术   1991年第6期

    • 纸质出版日期：1991-06-01

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  • [1]赵玉华,许国基,郑胜男,徐永昌.2MeV ~4He~+背散射测定固体薄膜厚度的研究[J].核技术,1991(06):326-332. DOI：

    Zhao Yuhua Xu Guoji Zheng Shengnan Xu Yongchang. Thickness measurement of thin solid films by 2MeV 4He+ Rutherford backscattering[J]. Nuclear techniques, 1991, (6): 326-332. DOI：

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