您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
γ射线辐照对MOS/SIMNI器件电学性能的影响
更新时间：2021-04-20
|

    • γ射线辐照对MOS/SIMNI器件电学性能的影响

    • Influence of y-ray irradiation on electrical properties of MOS/SIMNI devices

    • 核技术   1991年第1期

    • 纸质出版日期：1991-01-01

    移动端阅览

  • [1]林成鲁,李金华,金雨青,林梓鑫,邹世昌.γ射线辐照对MOS/SIMNI器件电学性能的影响[J].核技术,1991(01):13-16. DOI：

    Lin Chenglu Lin Zixin Zou Shichang. Influence of y-ray irradiation on electrical properties of MOS/SIMNI devices[J]. Nuclear techniques, 1991, (1): 13-16. DOI：

  •  
  •  

0

浏览量

74

下载量

2

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

暂无数据

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
0