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扫描力显微镜图象中离子潜径迹的表现形式
更新时间:2022-08-16
    • 扫描力显微镜图象中离子潜径迹的表现形式

    • Latent ion track contrast of scanning force microscopy

    • 核技术   1998年第8期
    • 中图分类号: TH742
    • 纸质出版日期:1998-08-01

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  • [1]王宇钢,赵渭江.扫描力显微镜图象中离子潜径迹的表现形式[J].核技术,1998(08):455-459. DOI:

    Latent ion track contrast of scanning force microscopy[J]. Nuclear techniques, 1998, (8). DOI:

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