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全反射X荧光分析技术的应用
更新时间:2021-04-09
    • 全反射X荧光分析技术的应用

    • The application of TXRFanalysis technique

    • 核技术   1997年第1期
    • 中图分类号: TL271.5
    • 纸质出版日期:1997-01-01

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  • [1]刘恺,郑素华,王瑞光,张郁辉.全反射X荧光分析技术的应用[J].核技术,1997(01):2-6. DOI:

    Tian Yuhong Liu Kai Zhent Suhua Wang Ruiguang Zhang Yuhui. The application of TXRFanalysis technique[J]. Nuclear techniques, 1997, (1). DOI:

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