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L82C87集成电路的总剂量辐射效应研究
更新时间：2021-04-09

    • L82C87集成电路的总剂量辐射效应研究

    • Total dose radiation effects of L82C87

    • 核技术   1997年第2期
    • 中图分类号： TN4

    • 纸质出版日期：1997-02-01

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  • [1]任迪远,余学锋,郭旗,陆妩,严荣良.L82C87集成电路的总剂量辐射效应研究[J].核技术,1997(02):56-59. DOI：

    Ren Diyuan Yu Xuefeng Guo Qi Lu Wu Yan Rongliang. Total dose radiation effects of L82C87[J]. Nuclear techniques, 1997, (2). DOI：

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相关作者

陆妩
郭旗
余学锋
张国强
任迪远
严荣良
石见见
赵文增

相关机构

武汉大学 物理与科学技术学院 核固体物理湖北省重点实验室
兰州大学
中国科学院大学
中国科学院近代物理研究所
中国科学院核用材料与安全评价重点实验室
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