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用微机化的PIXE方法测量薄样和厚样样品的元素含量
更新时间:2021-04-09
    • 用微机化的PIXE方法测量薄样和厚样样品的元素含量

    • Measurement of elemental content in thin and thick samples by PIXE with a personal computer

    • 核技术   1994年第9期
    • 中图分类号: O657.34
    • 纸质出版日期:1994-09-01

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  • [1]杨炳忻,卢钦棠,林馨思,虞孝麒,徐克尊,项志遴.用微机化的PIXE方法测量薄样和厚样样品的元素含量[J].核技术,1994(09):513-516. DOI:

    Measurement of elemental content in thin and thick samples by PIXE with a personal computer[J]. Nuclear techniques, 1994, (9). DOI:

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