Bi2Sr2CaCu2Oy－xFx超导体的正电子寿命研究

史志强; 钞曦旭; 吴令芸

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Bi₂Sr₂CaCu₂O_y－xF_x超导体的正电子寿命研究

更新时间：2021-04-09

- Bi₂Sr₂CaCu₂O_y－xF_x超导体的正电子寿命研究
- Positron lifetime studies of Bi₂Sr₂CaCu₂O_y-xF_x superconductors
- 核技术 1994年第10期
- 作者机构：
  
  陕西师范大学
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  陕西省自然科学基金()
- DOI：
  中图分类号： TM263
- 纸质出版日期：1994-10-01
- 稿件说明：
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[1]史志强,钞曦旭,吴令芸.Bi_2Sr_2CaCu_2O_（y－x）F_x超导体的正电子寿命研究[J].核技术,1994(10):624-626.

Positron lifetime studies of Bi₂Sr₂CaCu₂O_y-xF_x superconductors[J]. Nuclear techniques, 1994, (10).
[1]史志强,钞曦旭,吴令芸.Bi_2Sr_2CaCu_2O_（y－x）F_x超导体的正电子寿命研究[J].核技术,1994(10):624-626. DOI：

Positron lifetime studies of Bi₂Sr₂CaCu₂O_y-xF_x superconductors[J]. Nuclear techniques, 1994, (10). DOI：

摘要

室温下测量了Ｂｉ２Ｓｒ２ＣａＣｕ２Ｏｙ－ｘＦｘ超导体的正电子寿命和掺Ｆ量的关系．结合临界温度Ｔｃ的测量．研究了Ｆ在样品中替换Ｏ的位置．以及由此引起的样品电子结构的变化．研究表明．当ｘ＝０．４时．Ｆ主要替换Ｓｒ－Ｏ面的Ｏ．并使Ｓｒ－Ｏ面的电子向Ｃｕ－Ｏ面和Ｂｉ－Ｏ层迁移。

Abstract

The positron lifetime was measured as a function of doped F content for Bi2Sr2CaCu2Oy-xFx superconductor.Combined with the measurement of critical temperature Tc

the sites where F substituted for O and the change of electronic structures caused by local substitution of F in the samples were studied.

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