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纯铝中氢致缺陷的正电子湮没和透射电镜研究
更新时间：2021-04-09

    • 纯铝中氢致缺陷的正电子湮没和透射电镜研究

    • A study of hydrogen induced defects in aluminium by PAT and TEM

    • 核技术   1994年第10期
    • 中图分类号： TG111.91

    • 纸质出版日期：1994-10-01

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  • [1]曹必松,高乃飞,王德保,张乐.纯铝中氢致缺陷的正电子湮没和透射电镜研究[J].核技术,1994(10):601-604. DOI：

    A study of hydrogen induced defects in aluminium by PAT and TEM[J]. Nuclear techniques, 1994, (10). DOI：

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