用<sup>22</sup>Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术

史子康

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用²²Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术

更新时间：2021-04-09

- 用²²Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术
- The ²²Na positron annihilation life-time spectroscopy technique for solid surface film analysis
- 核技术 1993年第10期
- 作者机构：
  
  中国科学院福建物质结构研究所,福州,350002
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1993-10-01
- 稿件说明：
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[1]史子康.用~(22)Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术[J].核技术,1993(10):582-587.

Shi Zikang. The ²²Na positron annihilation life-time spectroscopy technique for solid surface film analysis[J]. Nuclear techniques, 1993, (10): 582-587.
[1]史子康.用~(22)Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术[J].核技术,1993(10):582-587. DOI：

Shi Zikang. The ²²Na positron annihilation life-time spectroscopy technique for solid surface film analysis[J]. Nuclear techniques, 1993, (10): 582-587. DOI：

摘要

以薄金属膜为例

全面地阐述在等温和金属原子所占空间体积不变的条件下

用

Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学法的原理和实用技术。

Abstract

A 22Na positron annihilation life-time spectroscopy method is applied to the measurement of solid surface film. In this paper the principle of the experimental method and the practical technique used to measure solid surface film have been expounded for thin metalfilm under the conditions of constant temperature and equal space volume occupied by metal atoms.

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用22Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术

The 22Na positron annihilation life-time spectroscopy technique for solid surface film analysis

DOI：

摘要

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用²²Na的正电子测量固体表面膜的寿命谱学技术

The ²²Na positron annihilation life-time spectroscopy technique for solid surface film analysis