微束背散射分析元素微区分布的研究

陆荣荣; 王玟珉; 朱节清; 乐安全

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微束背散射分析元素微区分布的研究

更新时间：2021-04-09

- 微束背散射分析元素微区分布的研究
- Measurement of micron-scale elemental distribution with microbeam backscattering technique
- 核技术 1993年第10期
- 作者机构：
  
  1. 中国科学院上海原子核研究所
  2. 中国科学院上海原子核研究所,上海,201800
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(11605241;11875290;11975276)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1993-10-01
- 稿件说明：
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[1]陆荣荣,王玟珉,朱节清,乐安全.微束背散射分析元素微区分布的研究[J].核技术,1993(10):597-601.

Lu Rongrong Wang Wenmin Zhu Jieqing Le Anquan. Measurement of micron-scale elemental distribution with microbeam backscattering technique[J]. Nuclear techniques, 1993, (10): 597-601.
[1]陆荣荣,王玟珉,朱节清,乐安全.微束背散射分析元素微区分布的研究[J].核技术,1993(10):597-601. DOI：

Lu Rongrong Wang Wenmin Zhu Jieqing Le Anquan. Measurement of micron-scale elemental distribution with microbeam backscattering technique[J]. Nuclear techniques, 1993, (10): 597-601. DOI：

摘要

微束背散射分析元素微区分布的分析方法使上海原子核研究所的质子微探针能在微区内综合使用质子激发X射线荧光和背散射等多种核效应

为样品由轻元素到重元素的全面无损、双微（微区、微量）分析提供了依据。应用该方法还测量了Si

/SiC复合陶瓷材料

证明了该分析方法的可靠性。

Abstract

The method of measuring micron-scale elemental distribution with microbeam backscattering technique is described. This method is shown to be reliable and effective by measuring Si3N4/SiC interface by proton microbeam non-Rutherford elastic backscattering. Thus

various kinds of nuclear techniques （PIXE

ion beam backscattering

etc） can be applied to non- destructive analysis of samples from light to heavy elements by using the Shanghai Nuclear Microprobe.

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