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IBAD MoS2-Ta膜的电子显微与能谱分析
更新时间:2021-03-12
    • IBAD MoS2-Ta膜的电子显微与能谱分析

    • Analyses of the IBAD MoS2-Ta films by TEM and energyspectrum techniques

    • 核技术   1999年第3期
    • 中图分类号: O484
    • 纸质出版日期:1999-03-01

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  • [1]王培录,刘仲阳,廖小东,孙官清,郑思孝.IBAD MoS_2-Ta膜的电子显微与能谱分析[J].核技术,1999(03):143-148. DOI:

    Analyses of the IBAD MoS2-Ta films by TEM and energyspectrum techniques[J]. Nuclear techniques, 1999, (3). DOI:

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马雁
张智鑫
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中国科学院物理研究所凝聚态物理中心
中国科学院高能物理研究所
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