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TeO2晶体材料的纯度和低本底γ测量
更新时间:2021-03-05
    • TeO2晶体材料的纯度和低本底γ测量

    • TeO2 crystal materials purity and low background gamma measurement

    • 核技术   2010年33卷第3期
    • 中图分类号: O571.323
    • 纸质出版日期:2010-03-01

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  • [1]王宏伟,田文栋,李玉兰,张国强,周培,武红利,孙晓艳,马余刚,蔡翔舟,方德清,郭威,陈金根,曹喜光,傅瑶,石钰.TeO_2晶体材料的纯度和低本底γ测量[J].核技术,2010,33(03):170-172. DOI:

    WANG Hongwei TIAN Wendong LI Yulan WU Hongli ZHANG Guoqiang ZHOU Pei SUN Xiaoyan MA Yugang CAI Xiangzhou FANG Deqing GUO Wei CHEN Jingen CAO Xiguang FU Yao SHI Yu. TeO2 crystal materials purity and low background gamma measurement[J]. Nuclear techniques, 2010, 33(3): 170-172. DOI:

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