浮栅ROM器件的脉冲与稳态总剂量效应研究

罗尹虹; 张凤祁; 郭红霞; 姚志斌; 张科营; 王圆明

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

浮栅ROM器件的脉冲与稳态总剂量效应研究

低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间：2021-03-05

- 浮栅ROM器件的脉冲与稳态总剂量效应研究
- Total dose effect on floating gate ROMs irradiated by Co-60 γ-rays or pulsed γ-rays
- 核技术 2010年33卷第10期
- 作者机构：
  
  西北核技术研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TN386.1
- 纸质出版日期：2010-10-01
- 稿件说明：
移动端阅览
[1]罗尹虹,张凤祁,郭红霞,姚志斌,张科营,王圆明.浮栅ROM器件的脉冲与稳态总剂量效应研究[J].核技术,2010,33(10):783-787.

LUO Yinhong ZHANG Fengqi GUO Hongxia YAO Zhibin ZHANG Keying WANG Yuanming. Total dose effect on floating gate ROMs irradiated by Co-60 γ-rays or pulsed γ-rays[J]. Nuclear techniques, 2010, 33(10): 783-787.
[1]罗尹虹,张凤祁,郭红霞,姚志斌,张科营,王圆明.浮栅ROM器件的脉冲与稳态总剂量效应研究[J].核技术,2010,33(10):783-787. DOI：

LUO Yinhong ZHANG Fengqi GUO Hongxia YAO Zhibin ZHANG Keying WANG Yuanming. Total dose effect on floating gate ROMs irradiated by Co-60 γ-rays or pulsed γ-rays[J]. Nuclear techniques, 2010, 33(10): 783-787. DOI：

摘要

目前国内存储器辐照效应研究多数集中于功能测试

对具体参数研究较少。本文提出了浮栅型存储器阈值电压的测试方法

并引入紫外预辐照方法

对几种不同集成度的浮栅型存储器EPROM

开展了脉冲与稳态总剂量效应对器件阈值电压影响的异同性研究

分析了损伤机理。研究结果表明

不同于MOS和CMOS器件

脉冲辐照引起的浮栅ROM器件阈值电压漂移大于稳态辐照

为系统器件选型提供了重要参考。

Abstract

Memory radiation effect studies in China have been mainly focused on functionality measurement. According to the present situation

threshold voltage testing method was presented on Floating Gate (FG) memory. FG EPROMs of different integration scales were pre-irradiation by UV lights

followed by irradiation of 60Co γ-rays

or pulsed γ-rays. The total dose effect similarities and differences were studied. The damage mechanism was analyzed. The results showed that unlike MOS and CMOS devices

FG memory threshold voltage shifted more due to pulsed irradiation than 60Co γ-ray irradiation. This is of important reference for choosing the device type for a certain system.

关键词

Keywords

references

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

大面积塑料闪烁体适合阈值电压研究

脉冲总剂量效应测试技术及其损伤规律研究