BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试

吴金杰; 衡月昆; 刘树彬; 郭建华; 封常青; 安琪; 孙志嘉; 赵玉达

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BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试

新一代同步辐射技术及应用 | 更新时间：2021-03-12

- BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试
- Performance test of BESIII TOF electronics by PMT signal
- 核技术 2008年第1期
- 作者机构：
  
  1. 中国科学院高能物理研究所
  2. 中国科技大学近代物理系快电子学实验室
  3. 中国科学院高能物理研究所北京 100049 中国科学院研究生院,北京,100049
  4. ,合肥,230026
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  (No.ZX069)
- DOI：
  中图分类号： TL81
- 纸质出版日期：2008-01-01
- 稿件说明：
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[1]吴金杰,衡月昆,刘树彬,郭建华,封常青,安琪,孙志嘉,赵玉达.BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试[J].核技术,2008(01):5-9.

WU Jinjie~. Performance test of BESIII TOF electronics by PMT signal[J]. Nuclear techniques, 2008, (1): 5-9.
[1]吴金杰,衡月昆,刘树彬,郭建华,封常青,安琪,孙志嘉,赵玉达.BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试[J].核技术,2008(01):5-9. DOI：

WU Jinjie~. Performance test of BESIII TOF electronics by PMT signal[J]. Nuclear techniques, 2008, (1): 5-9. DOI：

摘要

讨论了北京谱仪（BESⅢ）飞行时间探测器（TOF）前端电子学的物理需求。因光电倍增管信号为前端电子学实际使用

而以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能是一种方便易行的方法

所以本文采用光电倍增管信号作为信号源测试电子学的性能。测试结果表明现行设计的电子学性能已达到BESⅢ飞行时间探测器对电子学的预期目标。

Abstract

An easy method is studied to test TOF electronics by PMT signal

which is more near the real situation than signal generator.The test results show that the TOF electronics prototype has met the requirements of the TOF detector.

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Performance test of BESIII TOF electronics by PMT signal

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