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基于多分辨率分析的X荧光能谱的除噪与弱峰检测
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-12
    • 基于多分辨率分析的X荧光能谱的除噪与弱峰检测

    • Multi-resolution analysis for noise reduction and weak peak detection in X-ray fluorescence spectra

    • 核技术   2008年第4期
    • 中图分类号: O657.34
    • 纸质出版日期:2008-04-01

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  • [1]邹永祥,吴建平.基于多分辨率分析的X荧光能谱的除噪与弱峰检测[J].核技术,2008(04):260-264. DOI:

    ZOU Yongxiang1, 2 WU Jianping1 1. Multi-resolution analysis for noise reduction and weak peak detection in X-ray fluorescence spectra[J]. Nuclear techniques, 2008, (4): 260-264. DOI:

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