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用双能X射线测量双组分物质的质量厚度
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-12
    • 用双能X射线测量双组分物质的质量厚度

    • Mass thickness measurement of dual-sample by dual-energy X-rays

    • 核技术   2008年第7期
    • 中图分类号: TL816.1
    • 纸质出版日期:2008-07-01

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  • [1]陈敏聪,李红梅,陈子瑜,沈激.用双能X射线测量双组分物质的质量厚度[J].核技术,2008(07):511-514. DOI:

    CHEN Mincong LI Hongmei CHEN Ziyu SHEN Ji. Mass thickness measurement of dual-sample by dual-energy X-rays[J]. Nuclear techniques, 2008, (7): 511-514. DOI:

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