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硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计
核电子学与仪器 | 更新时间：2021-03-12
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    • 硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计

    • A testing system circuit for front-end ASIC of silicon strip detector

    • 核技术   2008年第3期
    • 中图分类号： TL81

    • 纸质出版日期：2008-03-01

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  • [1]千奕,苏弘,徐四九,李小刚.硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计[J].核技术,2008(03):229-232. DOI：

    QIAN Yi1, 2 SU Hong1 XU Si jiu1, 2 LI Xiaogang1 1. A testing system circuit for front-end ASIC of silicon strip detector[J]. Nuclear techniques, 2008, (3): 229-232. DOI：

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北京航空航天大学物理科学与核能工程学院
中国原子能科学研究院
中国科学院高能物理研究所
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