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电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展
更新时间:2021-03-12
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    • 电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展

    • Latent track formation and theoretical model in the electronic stopping power regime

    • 核技术   2002年第7期
    • 中图分类号: O571.33
    • 纸质出版日期:2002-07-01

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  • [1]侯明东,刘杰,张庆祥.电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展[J].核技术,2002(07):481-486. DOI:

    HOU Mingdong LIU Jie ZHANG Qingxiang. Latent track formation and theoretical model in the electronic stopping power regime[J]. Nuclear techniques, 2002, (7): 481-486. DOI:

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