陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究

王广甫; 鲁永芳

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究

低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间：2021-03-12

- 陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究
- Effects of sample position on external beam PIXE analysis of porcelain samples
- 核技术 2007年第5期
- 作者机构：
  
  1. 北京师范大学分析测试中心
  2. 北京师范大学低能核物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TQ174
- 纸质出版日期：2007-05-01
- 稿件说明：
移动端阅览
[1]王广甫,鲁永芳.陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究[J].核技术,2007(05):432-437.

WANG Guangfu 1 LU Yongfang 2 1. Effects of sample position on external beam PIXE analysis of porcelain samples[J]. Nuclear techniques, 2007, (5): 432-437.
[1]王广甫,鲁永芳.陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究[J].核技术,2007(05):432-437. DOI：

WANG Guangfu 1 LU Yongfang 2 1. Effects of sample position on external beam PIXE analysis of porcelain samples[J]. Nuclear techniques, 2007, (5): 432-437. DOI：

摘要

通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度

研究了陶瓷样品外束质子荧光（External beam proton induced X-ray emission

外束PIXE）分析中样品位置对测量结果的影响。并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE定量分析对样品定位精度的要求。结果表明:在质子能量为2.5MeV、样品距离质子引出窗口12mm和质子束入射方向夹角为30°、Si（Li）探测器在80°且距离样品20mm的实验条件下

沿束流方向位置变化引起的相对误差控制在5%以内时

样品定位精确度应高于±0.14mm;样品与质子束夹角变化引起的相对误差控制在5%以内时

样品角度定位需精确到±1.2°。

Abstract

The influence of sample position on analyzing Ar

Ca and Fe by external beam PIXE was studied by changing the position or direction of a GBW07306 sample. Precision requirements of sample–detector distance and incidence angle of the proton beam was determined. To control the PIXE analysis results with an accuracy of better than 5%

the displacement of sample position should be within ±0.14mm and the angle change within ±1.2° .

关键词

Keywords

references

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

BEPCII储存环准直测量点位误差分析

自然循环对压力容器液位测量的影响

关于重峰的解析及其误差