利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压

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利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压

更新时间：2021-03-12

- 利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压
- Measurement of RF cavity voltage with X-ray energy spectrum
- 核技术 2001年第8期
- 作者机构：
  
  中国科学院近代物理研究所,兰州,730000
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TL56
- 纸质出版日期：2001-08-01
- 稿件说明：
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[1]俞鸣峰,高宜海,张生虎,郑启文,郁奇,郭应祥,雷祥国.利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压[J].核技术,2001(08):696-700.

YU Mingfeng GAO Yihai ZHANG Shenghu ZHENG Qiwen YU Qi GUO Yingxiang LEI Xiangguo. Measurement of RF cavity voltage with X-ray energy spectrum[J]. Nuclear techniques, 2001, (8): 696-700.
[1]俞鸣峰,高宜海,张生虎,郑启文,郁奇,郭应祥,雷祥国.利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压[J].核技术,2001(08):696-700. DOI：

YU Mingfeng GAO Yihai ZHANG Shenghu ZHENG Qiwen YU Qi GUO Yingxiang LEI Xiangguo. Measurement of RF cavity voltage with X-ray energy spectrum[J]. Nuclear techniques, 2001, (8): 696-700. DOI：

报道了利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压的原理、方法及结果分析

并与直接测量法的结果进行比较

说明这种间接测定法的优点。通过实际调束对束流轨道、能量的测定与计算验证了用能谱法测定腔体电压数值的准确可靠性。

This paper introduced the principle

method and results of the RF cavity high voltage measurement by using X-ray energy spectrum

and explained its advantages by comparing with RF voltage direct measurement method. Through practical operations

the accuracy and reliability of the energy spectrum measurement method was proved.

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