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CMOS器件X射线与γ射线辐照效应比较
更新时间：2021-03-12
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    • CMOS器件X射线与γ射线辐照效应比较

    • Comparison on effects of CMOS devices irradiated by gamma and X ray

    • 核技术   2001年第10期
    • 中图分类号： TN386.5

    • 纸质出版日期：2001-10-01

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  • [1]何承发,巴维真,陈朝阳.CMOS器件X射线与γ射线辐照效应比较[J].核技术,2001(10):807-811. DOI：

    HE Chengfa BA Weizhen CHEN Zhaoyang. Comparison on effects of CMOS devices irradiated by gamma and X ray[J]. Nuclear techniques, 2001, (10): 807-811. DOI：

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