有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征

巩雁军; 李志宏; 董宝中

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有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征

更新时间：2021-03-12

- 有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征
- Characterization of the interface layer of organically modified mesoporous silicates
- 核技术 2003年第12期
- 作者机构：
  
  1. 太原师范学院化学系
  2. 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室
  3. 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室太原 030012 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原,030001
  4. ,北京,100039
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家重点基础研究专项基金（G20000480）()
- DOI：
  中图分类号： O643.3
- 纸质出版日期：2003-12-01
- 稿件说明：
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[1]巩雁军,李志宏,董宝中.有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征[J].核技术,2003(12):909-913.

GONG Yanjun LI Zhihong DONG Baozhong. Characterization of the interface layer of organically modified mesoporous silicates[J]. Nuclear techniques, 2003, (12): 909-913.
[1]巩雁军,李志宏,董宝中.有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征[J].核技术,2003(12):909-913. DOI：

GONG Yanjun LI Zhihong DONG Baozhong. Characterization of the interface layer of organically modified mesoporous silicates[J]. Nuclear techniques, 2003, (12): 909-913. DOI：

摘要

采用X射线衍射（XRD）、透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、红外（IR）、核磁共振（NMR）、拉曼（Raman）光谱、热重（TG）、N

吸附/脱附分析、元素分析等现代物理技术对有机官能化介孔材料的物相、表面组成、稳定性等织构性能进行表征。对所合成的系列有机官能化硅基MSU—X介孔材料

表征了各种有机硅氧烷由于其反应速率、空间位阻的不同

使其对硅基骨架的缩聚程度、孔道和表面所带来的性质差异。运用小角X射线散射方法（SAXS）实验技术对所合成的有机官能化介孔材料结构和表面的表征方法

揭示了有机官能化基团在介孔孔道的存在状态及在孔道表面所形成的界面特征。

Abstract

The characteristics of organo-functionalized mesoporous silicates were described. The incorporated organic groups in the mesochannels and their surface properties could be characterized by XRD

TEM

SEM

NMR

Roman

N2 physisorption techniques and bulk element analysis. The small angle X-ray scattering （SAXS）

a powerful tool for the mesoporous materials was described in detail. SAXS explained the distribution of organic groups that appeared to be uniform in mesoporous silicas and the characteristics of interfacial layers that led to the scattering of pore distortion and gave a negative deviation from Porod’s law.

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