电子能损引起的潜径迹

侯明东; 刘杰; 李保权

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电子能损引起的潜径迹

更新时间：2021-03-12

- 电子能损引起的潜径迹
- Latent tracks induced by high electronic excitation
- 核技术 1999年第7期
- 作者机构：
  
  中国科学院近代物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  (No.ZX069)
- DOI：
  中图分类号： O571
- 纸质出版日期：1999-07-01
- 稿件说明：
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[1]侯明东,刘杰,李保权.电子能损引起的潜径迹[J].核技术,1999(07):385-388.

Latent tracks induced by high electronic excitation[J]. Nuclear techniques, 1999, (7): 385-388.
[1]侯明东,刘杰,李保权.电子能损引起的潜径迹[J].核技术,1999(07):385-388. DOI：

Latent tracks induced by high electronic excitation[J]. Nuclear techniques, 1999, (7): 385-388. DOI：

摘要

潜径迹是电子能损在凝聚态物质中引起的重要效应之一。给出了一个关于引起潜径迹电子能损阈值、损伤截面以及径迹形貌的综合评述。

Abstract

Latent track formation is one of the important effects induced by swift heavyions in condensed matter. An overview on electronic stopping threshold for trackformation

damage cross section and track morphology was given in this paper.

关键词

Keywords

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