EDXRF中特征X射线的蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术

李哲; 庹先国; 刘敏; 石睿; 吴雪梅

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EDXRF中特征X射线的蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术

低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间：2021-03-05

- EDXRF中特征X射线的蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术
- Monte Carlo simulation and Gaussian broaden technique for full energy peak of characteristic X-ray in EDXRF
- 核技术 2012年35卷第12期
- 作者机构：
  
  1. 成都理工大学地学核技术四川省重点实验室
  2. 地质灾害防治与地质环境保护国家重点实验室
  3. 西南科技大学核废物与环境安全国防重点学科实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家杰出青年科学基金（41025015）;国家自然科学基金项目（40974065）;核退役与核废物处置四川省青年科技创新研究团队（2011JTD0013）;成都理工大学优秀创新团队培育计划（CDUTHY0084）;国家高技术研究发展计划（2012AA063501）资助
- DOI：
  中图分类号： TL81
- 纸质出版日期：2012-12-01
- 稿件说明：
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[1]李哲,庹先国,刘敏,石睿,吴雪梅.EDXRF中特征X射线的蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术[J].核技术,2012,35(12):911-915.

LI Zhe1 TUO Xianguo2, 3 LIU Min1 SHI Rui1 WU Xuemei1 1. Monte Carlo simulation and Gaussian broaden technique for full energy peak of characteristic X-ray in EDXRF[J]. Nuclear techniques, 2012, 35(12): 911-915.
[1]李哲,庹先国,刘敏,石睿,吴雪梅.EDXRF中特征X射线的蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术[J].核技术,2012,35(12):911-915. DOI：

LI Zhe1 TUO Xianguo2, 3 LIU Min1 SHI Rui1 WU Xuemei1 1. Monte Carlo simulation and Gaussian broaden technique for full energy peak of characteristic X-ray in EDXRF[J]. Nuclear techniques, 2012, 35(12): 911-915. DOI：

摘要

针对实现X荧光先进无标样分析的前期关键技术

开展基于Si（PIN）探测器的EDXRF系统蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术研究。以攀枝花矿区典型的铁尾矿为分析目标

实验测量得到样品中各元素特征X射线的仪器谱

通过建立Si（PIN）探测装置的蒙特卡罗模拟模型

获得铁尾矿的模拟注量谱

然后用自行计算得到的高斯展宽参数对模拟注量谱进行高斯展宽。结果表明

蒙特卡罗模拟方法能较好的实现元素定性分析

并可自动校正Fe元素对Ca、Ti、V和Cr的增强效应

自行建立的高斯展宽技术可准确得到复杂矿样中元素特征X射线的峰强度。本项研究为进一步实现先进的EDXRF无标样分析提供了关键技术。

Abstract

Background: Non-standard analysis(NSA) technique is one of the most important development directions of energy dispersive X-ray fluorescence(EDXRF).Purpose: This NSA technique is mainly based on Monte Carlo(MC) simulation and full energy peak broadening

which were studied preliminarily in this paper.Methods: A kind of MC model was established for Si-PIN based EDXRF setup

and the flux spectra were obtained for iron ore sample.Finally

the flux spectra were broadened by Gaussian broaden parameters calculated by a new method proposed in this paper

and the broadened spectra were compared with measured energy spectra.Results: MC method can be used to simulate EDXRF measurement

and can correct the matrix effects among elements automatically.Peak intensities can be obtained accurately by using the proposed Gaussian broaden technique.Conclusions: This study provided a key technique for EDXRF to achieve advanced NSA technology.

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