空间单粒子锁定效应研究

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空间单粒子锁定效应研究

低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间：2021-03-05

- 空间单粒子锁定效应研究
- Investigation of single event latchup
- 核技术 2012年35卷第9期
- 作者机构：
  
  1. 兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理重点实验室
  2. 航天东方红卫星有限公司
  3. 中国原子能科学研究院核物理所
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  真空低温技术与物理重点实验室基金（9140C55020912OC5501）资助()
- DOI：
  中图分类号： TN386.1
- 纸质出版日期：2012-09-01
- 稿件说明：
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[1]薛玉雄,杨生胜,陈罗婧,曹洲,把得东,安恒,郭刚.空间单粒子锁定效应研究[J].核技术,2012,35(09):692-697.

XUE Yuxiong1 YANG Shengsheng1 Chen Luojing1 CAO Zhou1 BA Dedong1 AN Heng1 GUO Gang3 1. Investigation of single event latchup[J]. Nuclear techniques, 2012, 35(9): 692-697.
[1]薛玉雄,杨生胜,陈罗婧,曹洲,把得东,安恒,郭刚.空间单粒子锁定效应研究[J].核技术,2012,35(09):692-697. DOI：

XUE Yuxiong1 YANG Shengsheng1 Chen Luojing1 CAO Zhou1 BA Dedong1 AN Heng1 GUO Gang3 1. Investigation of single event latchup[J]. Nuclear techniques, 2012, 35(9): 692-697. DOI：

空间辐射效应是影响器件空间性能的重要因素

特别是单粒子锁定现象一直是困扰CMOS器件在空间应用的一个难题。为此

文中分析了空间单粒子锁定效应机理、特点、模拟试验及检测方法

并选取典型空间用器件开展了单粒子锁定试验研究

在此基础上

结合试验数据分析给出了单粒子锁定防护方法、监测方法及建议

供相关技术人员参考。

Radiation effects on avionics microelectronics are important reliability issues for many space applications.In particular

single-event latchup(SEL) phenomenon is a major threat to CMOS integrated circuits in space systems.To effectively circumvent the failure

it is important to know the behavior of such devices during latchup.In this paper

the mechanisms for SEL in CMOS devices are investigated.Several microelectronic devices used in avionics are tested using heavy ion beams

pulsed laser and 252Cf source.Based on the SEL test results

SEL-hardening and monitoring methods for preventing SEL from the systems design level are proposed.

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