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同步辐射掠入射X射线衍射研究α相聚辛基芴薄膜的微结构
同步辐射技术及应用 | 更新时间:2021-03-05
    • 同步辐射掠入射X射线衍射研究α相聚辛基芴薄膜的微结构

    • Microstructure characterization of polyoctylfluorene thin film by using synchrotron grazing incident X-ray diffraction

    • 核技术   2011年34卷第2期
    • 中图分类号: O484.5
    • 纸质出版日期:2011-02-01

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  • [1]陈曦,程凤梅,李海东,张吉东.同步辐射掠入射X射线衍射研究α相聚辛基芴薄膜的微结构[J].核技术,2011,34(02):139-142. DOI:

    CHEN Xi1, 2 CHENG Fengmei1 LI Haidong1 ZHANG Jidong2 1. Microstructure characterization of polyoctylfluorene thin film by using synchrotron grazing incident X-ray diffraction[J]. Nuclear techniques, 2011, 34(2): 139-142. DOI:

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中国科学院大学
中国科学院上海应用物理研究所
武汉大学 物理与科学技术学院 核固体物理湖北省重点实验室
长春工业大学化学工程学院
中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室
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