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锁相环单粒子瞬态效应的电路级仿真
核电子学与仪器 | 更新时间:2021-03-05
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    • 锁相环单粒子瞬态效应的电路级仿真

    • Single event transient circuit-level simulation of PLL

    • 核技术   2011年34卷第5期
    • 中图分类号: TN911.8
    • 纸质出版日期:2011-05-01

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  • [1]赵雯,郭红霞,罗尹虹,郭晓强,张凤祁,张科营,王园明.锁相环单粒子瞬态效应的电路级仿真[J].核技术,2011,34(05):396-400. DOI:

    ZHAO Wen GUO Hongxia LUO Yinhong GUO Xiaoqiang ZHANG Fengqi ZHANG Keying WANG Yuanming. Single event transient circuit-level simulation of PLL[J]. Nuclear techniques, 2011, 34(5): 396-400. DOI:

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