近几年来许多单位陆续进口的高分辨率X射线Si（Li）探测器、大体积同轴Ge（Li）和HPGe探测器，因入射窗的微漏、吸气剂的吸气等原因造成真空度下降、耗液氮量增加、分辨率恶化。为使物尽其用，我们开展修理业务，修理探测器、前置放大器、真空检漏及机械部分。1986年已修理的9套探测器测试结果如表1、2所示。