XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪

林金锌; 王裕政; 江立人; 顾连学; 乐安全

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XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪

更新时间：2022-09-13

- XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪
- XFT-84 microcomputer-based X-ray fluorescent coating thickness measurement instrument
- 核技术 1986年09卷第7期
- 作者机构：
  
  中国科学院上海原子核研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1985-11-05，
  
  纸质出版日期：1986-07
- 稿件说明：
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林金锌, 王裕政, 江立人, 等. XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪[J]. 核技术, 1986,09(7):15-19,60.

Jinxin Lin, Yuzheng Wang, Liren Jiang, et al. XFT-84 microcomputer-based X-ray fluorescent coating thickness measurement instrument[J]. Nuclear techniques, 1986, 09(7): 15-19,60.
林金锌, 王裕政, 江立人, 等. XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪[J]. 核技术, 1986,09(7):15-19,60. DOI：

Jinxin Lin, Yuzheng Wang, Liren Jiang, et al. XFT-84 microcomputer-based X-ray fluorescent coating thickness measurement instrument[J]. Nuclear techniques, 1986, 09(7): 15-19,60. DOI：

摘要

利用X射线荧光和微机技术研制成涂层测厚仪。本文叙述了仪器的构造原理。它能够快速、非破坏和精确测量金属或非金属零件上的多种涂层厚度。如对磁盘磁层的测量范围

=50—500µg/cm

，测量精确度好于±4%（

≥100µg/cm

）。

Abstract

An intelligent instrument for coating thickness measurement has been developed by using X-ray fluorescent and modern microcomputer techniques. This paper discribes the principle and the construction of the instrument. The instrument allows fast

precise and nondestrustive measurement of the thickness of various coating plating on metallic or nonmetallic parts. For example

the range of the thickness measurement for magnetic coating layer of the magnetic disc is M=50—500µg/cm

the precision of coating thickness measurement is better than ±4% (M=100µg/cm

关键词

Keywords

references

American National Standard, ASTM, A 754-79 .

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