321型束流剖面监测仪在离子束技术中的应用

孙义林; 关安民

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321型束流剖面监测仪在离子束技术中的应用

更新时间：2022-09-13

- 321型束流剖面监测仪在离子束技术中的应用
- Application of 321 model beam profile monitor to ion beam technique
- 核技术 1986年09卷第2期
- 作者机构：
  
  中国科学院上海冶金研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1984-01-09，
  
  纸质出版日期：1986-02
- 稿件说明：
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孙义林, 关安民. 321型束流剖面监测仪在离子束技术中的应用[J]. 核技术, 1986,09(2):37-40,61.

Yilin Sun, Anmin Guan. Application of 321 model beam profile monitor to ion beam technique[J]. Nuclear techniques, 1986, 09(2): 37-40,61.
孙义林, 关安民. 321型束流剖面监测仪在离子束技术中的应用[J]. 核技术, 1986,09(2):37-40,61. DOI：

Yilin Sun, Anmin Guan. Application of 321 model beam profile monitor to ion beam technique[J]. Nuclear techniques, 1986, 09(2): 37-40,61. DOI：

摘要

束流剖面监测仪是监测带电粒子束在传输过程中状态变化的一种装置。该装置的叶片式探针（以下简称探针）安装在粒子加速器、同位素分离器和离子注入机等监测位置上并由它把截获的信号显示在示波器屏上便可观察到沿束横截面束流密度分布曲线（以下简称束形）。通过束形变化我们可定性地判断束流强度、束流品质和它在束管道中的相对位置等。因此，它在国外各种类型的粒子加速器上广为使用。

Abstract

The application of 321 model beam profile monitor in our ion source test bench is introduced in this paper with a brief description of its structure and working principle. In our case this monitor is applied to control the working condition of ion source for optimum ion beam formation. Experimental results show that this monitor with continuous display is very useful and convienent for ion beam techniques.

关键词

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references

李公攀等，原子能科学技术， 1 , 46 ( 1981 ).

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