溅射引发的共振解离谱仪

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溅射引发的共振解离谱仪

知识介绍 | 更新时间：2022-09-13

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- 溅射引发的共振解离谱仪
- 暂无标题
- 核技术 1985年08卷第3期
- 作者机构：
  
  中国科学院上海原子核研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1985
- 稿件说明：
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王震遐. 溅射引发的共振解离谱仪[J]. 核技术, 1985,08(3):69-70.
王震遐. 溅射引发的共振解离谱仪[J]. 核技术, 1985,08(3):69-70. DOI：

DOI：

摘要

溅射引发的共振解离谱学（

SIRIS

）是一种刚刚开始发展的新技术。它提供了一种超灵敏度和超选择性的分析手段，可以用来分析固体样品中除了氦和氖之外的周期表中所有的元素甚至同位素。它不仅可以做表面分析，同时也可以进行深度分布探测，是一种很有潜力的分析工具。

Abstract

关键词

Keywords

references

G. S. Hurst et al ., Phys. Rev. Lett ., 35 , 82 （ 1975 ）.

J. E. Parks et al . , Thin Solid Films , 108 , 69 （ 1983 ）.

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