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中国科学院原子能研究所
纸质出版日期:1983-04
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许国基, 孟祥金. α粒子薄膜厚度测量仪[J]. 核技术, 1983,06(2):61-62.
许国基, 孟祥金. α粒子薄膜厚度测量仪[J]. 核技术, 1983,06(2):61-62. DOI:
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α粒子薄膜厚度测量仪的原理是:α粒子穿过薄膜时产生的能量损失可以用它通过一段空气层的能量损失来等效,由此计算出薄膜的厚度。
J. F. Ziegler , Helium stopping powers and ranges in all elements , Vol.4 , Pergamon Press , New York , 1977 , p. 45 .
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