X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系

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更新时间：2022-09-13

- X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系
- The instrumental condition, spectrum shape and measuring precision of an X-ray fluorescence analyzer
- 核技术 1990年13卷第4期
- 作者机构：
  
  中国科学院上海原子核研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1990-04
- 稿件说明：
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顾连学, 乐安全, 谷英梅, 等. X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系[J]. 核技术, 1990,13(4):220-223.

Lianxue Gu, Anquan Le, Yingmei Gu, et al. The instrumental condition, spectrum shape and measuring precision of an X-ray fluorescence analyzer[J]. Nuclear techniques, 1990, 13(4): 220-223.
顾连学, 乐安全, 谷英梅, 等. X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系[J]. 核技术, 1990,13(4):220-223. DOI：

Lianxue Gu, Anquan Le, Yingmei Gu, et al. The instrumental condition, spectrum shape and measuring precision of an X-ray fluorescence analyzer[J]. Nuclear techniques, 1990, 13(4): 220-223. DOI：

本文通过分析同位素X射线荧光分析仪的工作条件和谱形的关系，来判选仪器的正确工作条件，以此提高仪器系统长期测量精确度。

By analyzing the spectrum shapes related to the instrumental condition

an optimized instrumental condition of the X-ray fluorescence analyzer is proposed in present paper

so as to improve the long-term measuring precision of the analyzer.

张家骅等编著，放射性同位素X射线荧光分析，原子能出版社，北京， 1981 年，第230页。

自制放射性同位素荧光分析仪的应用，理化检验（化学分册1），（ 1975 ）， 30 。

顾连学等，核技术， 11 （ 1988 ）， 4 ： 27 。

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