本文通过寿命谱和多普勒增宽谱测量来了解正电子在不同结晶度

Teflon

中的湮没机制。同时为获得长寿命驻极体提供信息。用

FWHM

=440ps的寿命谱仪测量了由等温退火和淬火而获得不同结晶度的

Teflon

样品。用X衍射测得等温退火样品的结晶度为74%称

TEF

（c）

，而淬火样品几乎看不到结晶峰称

TEF

（

a

）

。用对

106

Ru的分辨率为1.14keV的高纯锗测量两种不同结晶度的多普勒增宽谱，算得

S

参数见表。