本文研究了掺Ni

2+

的LiF晶体的正电子湮没特性。寿命谱测量使用快-慢符合正电子寿命谱仪，其双高斯分辨函数的参数为：半高宽度

W

1

=242ps，

W

2

=399ps；相对强度

I

1

=61.4%，

I

2

=38.6%；中心相对位移29ps。晶体由上海光学仪器研究所提供，用火焰原子吸收光谱仪测定Ni的含量。每个寿命谱总计数不少于9×10

5

。测试的环境温度

T

=23±0.5℃。采用

Posi

-

tronfit

程序以三寿命成份拟合实验数据。结果（见表）表明，第三个成份的寿命和强度基本上不随样品变化（

τ

s

=（1.0±0.3）ns，

I

3

=（2.0±0.5）%）

可以归结为源的影响；而另两个成份随着Ni

2+

浓度的增加，

τ

1

稍微变长，

I

1

增大；

τ

2

基本上不变，但

I

2

减小。